X-Ray Diffraction Integrated Circuit

Numéro d’image : 12027277
X-Ray Diffraction Integrated Circuit
Colour enhanced x-ray diffraction pattern from a silicon integrated circuit wafer. Pattern shows the 3-fold rotational symmetry of the crystal lattice. X-ray diffraction is a technique in crystallography used to find the shape or structure of a molecule
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Crédit: Science Photo Library / Falco, Charles
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