Examining microdevice

Numéro d’image : 11894897
Examining microdevice
MODEL RELEASED. Examining microdevice. Technician inspecting a microelectromechanical system (MEMS) with an interference microscope (surface profiler). MEMS are electrical and mechanical devices with micrometre-sized parts. They include tiny robots (nanorobots),as well as miniature laboratories (labs on a chip) which can be used in sensors or diagnostic devices. The surface features of this MEMS,seen on the monitor,have been found to a vertical resolution of one tenth of a nanometre using white light interferometry,the pattern caused by the interaction of two waves of white light. Photographed in the Micromechanics Lab of Newcastle University,England
Licence : Droits gérés
Crédit: Science Photo Library / Cuthbert, Colin
Taille de l’image : 4296 px × 3272 px
Model Release : Disponible
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