Microscope inspection of a processed silicon wafer
Numéro d’image : 11894740
| Chip under a microscope. View of a processed silicon wafer under the lens of a microscope for inspection | |
| Licence : | Droits gérés |
| Crédit: | Science Photo Library / Pasieka, Alfred |
| Taille de l’image : | 4786 px × 3661 px |
| Model Release : | Non requis |
| Property Release : | Non requis |
| Restrictions : | - |
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