Testing microchips

Numéro d’image : 11894720
Testing microchips
Integrated circuit wafer undergoing probe testing,during its final design stage. The wafer consists of rows of individual integrated circuits (the gold squares),and the test probes can be seen arranged around the edge of an individual integrated circuit
Licence : Droits gérés
Crédit: Science Photo Library / Sternberg, A. / Swindon Silicon Systems
Taille de l’image : 2700 px × 3543 px
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