Atomic force microscope
Numéro d’image : 11832603
| Atomic force microscope (AFM). This microscope is used to study the surfaces of objects at an atomic level. An extremely fine spring-mounted probe,that is either held in contact with the surface or just above it,slowly moves across the surface. Any deflections are recorded and converted into a computer map of the surface (seen on the monitors at right) | |
| Licence : | Droits gérés |
| Crédit: | Science Photo Library / Brookes, Andrew / National Physical Laboratory |
| Taille de l’image : | 5440 px × 4080 px |
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| Property Release : | Non requis |
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