False-col scanning tunnelling image of silicon
Numéro d’image : 11832587
| False-colour scanning tunnelling microscope image of atoms & electron bonds in a crystal of silicon. The black spots are the individual silicon atoms in a single "unit cell". The bright regions between them show the position of electron bonds that hold the atomic crystal structure together. In this case,the image shows so-called "back bonds" that reach out sideways from the second layer of atoms in the surface of the silicon crystal. Scanning tunnelling microscopy is based on quantum mechanical effects,& records the surface structure of a substance at the level of the individual atoms. Magnification: x45 million at 35mm size. Blue tint. Ref: MICROCOSMOS,p. 204 | |
| Licence : | Droits gérés |
| Crédit: | Science Photo Library / IBM |
| Taille de l’image : | 3561 px × 5079 px |
| Model Release : | Non requis |
| Property Release : | Non requis |
| Restrictions : | - |
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