Multilayer Laue lenses,SEM

Numéro d’image : 11688693
Multilayer Laue lenses,SEM
Multilayer Laue lenses (MLL),coloured scanning electron micrograph (SEM). These lenses were carved through a process called reactive ion etching. They are designed to focus high-intensity X-rays to within a single nanometre using instruments like the National Synchrotron Light Source II at Brookhaven National Laboratory,New York,USA. Image published in 2012
Licence : Droits gérés
Crédit: Science Photo Library / Brookhaven National Laboratory
Taille de l’image : 3668 px × 2386 px
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