Silicon wafer probe
Numéro d’image : 11628469
| Silicon wafer probe being used to carry out on-wafer testing and monitoring of active silicon microchip circuitry. This is a GSG 150 model probe,where GSG stands for ground-signal-ground,and the pitch of the probe is 150 micrometres). Photographed at the National Physical Laboratory,Teddington,UK | |
| Licence : | Droits gérés |
| Crédit: | Science Photo Library / Brookes, Andrew / National Physical Laboratory |
| Taille de l’image : | 3686 px × 4800 px |
| Model Release : | Non requis |
| Property Release : | Non requis |
| Restrictions : | - |
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