Atomic force microscope
Numéro d’image : 11624073
| Atomic force microscope (AFM). AFMs are used to study the surfaces of objects at an atomic level. An extremely fine spring-mounted probe,that is either held in contact with the surface or just above it,slowly moves across the surface. Any deflections are recorded and converted into a computer map of the surface. This microscope is a metrological AFM (MAFM),used to calibrate other AFMs. Laser interferometers are used to measure the position of the tip relative to the sample surface. Photographed at the National Physical Laboratory,Teddington,UK | |
| Licence : | Droits gérés |
| Crédit: | Science Photo Library / Brookes, Andrew / National Physical Laboratory |
| Taille de l’image : | 4850 px × 3638 px |
| Model Release : | Non requis |
| Property Release : | Non requis |
| Restrictions : | - |
Prix pour cette image À partir de 45 €
Produit vendu
(Calendrier, Carte postale, Carte de vœux, Impression sur textile, Packaging etc)
À partir de 45 €
Usage commercial
(Affichage, Annonce presse, Annonce TV, Carte, Digital - hors rés. sociaux, Digital - rés. sociaux etc)
À partir de 45 €
Éditorial
(Digital, Journal, Livre, Livre pratique, Magazine, Télévision etc)
À partir de 60 €
Usage non-commercial
(Digital - hors rés. sociaux, Digital - rés. sociaux etc)
À partir de 120 €
Mots clés
- à l'échelle nanométrique,
- agrandissement,
- britannique,
- calibrage,
- calibrer,
- équipement,
- étudier,
- Europe,
- européen,
- Grande-Bretagne,
- instrument,
- labo,
- laboratoire,
- laboratoire national de physique,
- matériel,
- météorologie,
- microscope,
- microscope à force atomique,
- microscopie,
- myélite flasque aiguë,
- nanométrique,
- nanotechnologie,
- National Physical Laboratory,
- physique,
- recherche,
- Royaume Uni,
- Royaume-Uni,
- technologie,
- technologique,
- Teddington