Measuring dielectric properties
Numéro d’image : 11558582
| MODEL RELEASED. Measuring dielectric properties. Researcher adjusting ellipsometric equipment. Ellipsometry is an optical technique that analyses the properties of dielectric materials,such as thin films (layers of material that are less than a millimetre thick). Dielectric materials are non-conducting substances that have unique properties in response to an electric field. Photographed at the National Physical Laboratory,in Teddington,UK | |
| Licence : | Droits gérés |
| Crédit: | Science Photo Library / Brookes, Andrew / National Physical Laboratory |
| Taille de l’image : | 4851 px × 3638 px |
| Model Release : | Disponible |
| Property Release : | Non requis |
| Restrictions : | - |
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