Silicon nanoparticle, TEM

Numéro d’image : 12971121
Silicon nanoparticle, TEM
Silicon nanoparticle. Transmission electron micrograph (TEM) of a single silicon nanoparticle. The scale bar at lower left shows a length of 2 nanometres. This research was carried out at the Material Measurement Laboratory (MML) of the National Institute of Standards and Technology (NIST). Image published in 2014.
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Crédit: Science Photo Library / NATIONAL INSTITUTE OF STANDARDS AND TECHNOLOGY
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