Atomic force microscope suspension system, abstract image

Numéro d’image : 12553521
Atomic force microscope suspension system, abstract image
Atomic force microscope suspension system, abstract image. Atomic force microscopy (AFM), also called scanning force microscopy (SFM), uses an atomic-sized tip to probe the surface of a material. This allows a three-dimensional map of the surface to be constructed, down to the scale of individual atoms.
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Crédit: Science Photo Library / ARCADY ZAKHAROV
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