Atomic force microscope suspension system, abstract image

Numéro d’image : 12553520
Atomic force microscope suspension system, abstract image
Atomic force microscope suspension system, abstract image. Atomic force microscopy (AFM), also called scanning force microscopy (SFM), uses an atomic-sized tip to probe the surface of a material. This allows a three-dimensional map of the surface to be constructed, down to the scale of individual atoms.
Licence : Droits gérés
Crédit: Science Photo Library / ARCADY ZAKHAROV
Taille de l’image : 5760 px × 3840 px
Model Release : Non requis
Property Release : Non requis
Restrictions : -

Prix pour cette image À partir de 45 €

Produit vendu
(Calendrier, Carte postale, Carte de vœux, Impression sur textile, Packaging etc)
À partir de 45 €
Usage commercial
(Affichage, Annonce presse, Annonce TV, Carte, Digital - hors rés. sociaux, Digital - rés. sociaux etc)
À partir de 45 €
Éditorial
(Digital, Journal, Livre, Livre pratique, Magazine, Télévision etc)
À partir de 60 €
Usage non-commercial
(Digital - hors rés. sociaux, Digital - rés. sociaux etc)
À partir de 120 €

Mots clés

;