Interference microscope
Numéro d’image : 11832456
| MODEL RELEASED. Interference microscope. Technician using an interference microscope (surface profiler) to examine a microelectromech- anical system (MEMS). The surface features of the MEMS can be found to a vertical resolution of one tenth of a nanometre using white light interferometry,the pattern caused by the interaction of two waves of white light. MEMS are electrical and mechanical devices with micrometre- sized parts. They include tiny robots (nanorobots),as well as miniature laboratories (labs on a chip) which can be used in sensors or diagnostic devices. Photographed in the Micro- mechanics Lab of Newcastle University,England | |
| Licence : | Droits gérés |
| Crédit: | Science Photo Library / Cuthbert, Colin |
| Taille de l’image : | 3752 px × 3791 px |
| Model Release : | Disponible |
| Property Release : | Non requis |
| Restrictions : | - |
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Mots clés
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