Titanium silicon nitride sample,SEM

Numéro d’image : 11684397
Titanium silicon nitride sample,SEM
Coloured scanning electron micrograph (SEM) of a sample of titanium silicon nitride. This compound is used as a coating for hard materials. This sample is being prepared for analysis by atom probe tomography,an imaging technique that will show the position of every atom in the sample. The sample has been filed to a fine tip by a focused ion beam
Licence : Droits gérés
Crédit: Science Photo Library / AMMRF, UNIVERSITY OF SYDNEY
Taille de l’image : 3611 px × 4874 px
Model Release : Non requis
Property Release : Non requis
Restrictions : -

Prix pour cette image À partir de 45 €

Produit vendu
(Calendrier, Carte postale, Carte de vœux, Impression sur textile, Packaging etc)
À partir de 45 €
Usage commercial
(Affichage, Annonce presse, Annonce TV, Carte, Digital - hors rés. sociaux, Digital - rés. sociaux etc)
À partir de 45 €
Éditorial
(Digital, Journal, Livre, Livre pratique, Magazine, Télévision etc)
À partir de 60 €
Usage non-commercial
(Digital - hors rés. sociaux, Digital - rés. sociaux etc)
À partir de 120 €

Mots clés

;