Atom probe analysis,SEM
Numéro d’image : 11684337
| Coloured scanning electron micrograph (SEM) of a sample of aluminium (blue rod) being prepared for atom probe tomography (APT). The sample is welded to a platinum manipulation rod (right) so that it can be moved and correctly positioned. The sample will be welded to a silicon post then detached from the manipulator using an ion beam,at which point the sample will be ready for analysis. APT is an imaging technique used to visualise the position of each atom in a sample,along with its chemical composition | |
| Licence : | Droits gérés |
| Crédit: | Science Photo Library / AMMRF, UNIVERSITY OF SYDNEY |
| Taille de l’image : | 4508 px × 3886 px |
| Model Release : | Non requis |
| Property Release : | Non requis |
| Restrictions : | - |
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Mots clés
- à l'échelle nanométrique,
- aluminium,
- analyse,
- apt,
- aucun,
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- chimie,
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- échantillon,
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- métallurgie,
- microscope électronique à balayage,
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- préparation,
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- sat,
- science des matériaux,
- science matérielle,
- sciende des matérieux,
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- soudage,
- technique d'imagerie,
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