Scanning electron microscopy

Numéro d’image : 11649029
Scanning electron microscopy
Scanning electron microscopy. Researcher using a scanning electron microscope (SEM) to characterize samples of various materials. It is used to detect and identify impurities,densities and distributions,concentrations,sub-band gap defects,topography,and crystallographic properties and orientations. Photographed at the Solar Energy Research Facility (SERF) at the National Renewable Energy Laboratory (NREL),Golden,Colorado,USA
Licence : Droits gérés
Crédit: Science Photo Library / Yost, Jim / US Department of Energy / NREL
Taille de l’image : 3200 px × 3200 px
Model Release : Le droit n'est pas encore disponible. Merci de nous contacter avant utilisation.
Restrictions :
  • Editorial use only

Prix pour cette image À partir de 45 €

Produit vendu
(Calendrier, Carte postale, Carte de vœux, Impression sur textile, Packaging etc)
À partir de 45 €
Usage commercial
(Affichage, Annonce presse, Annonce TV, Carte, Digital - hors rés. sociaux, Digital - rés. sociaux etc)
À partir de 45 €
Éditorial
(Digital, Journal, Livre, Livre pratique, Magazine, Télévision etc)
À partir de 60 €
Usage non-commercial
(Digital - hors rés. sociaux, Digital - rés. sociaux etc)
À partir de 120 €

Mots clés

;